研究開発
ホロンのものさしはナノメートル 見えない世界を測ります
この開発の内容は、第37回、International Conference on Micro and Nano Engineering (本国際学会は、2011年9月19日~23日ベルリンで開催)において発表されました。
また、2011年10月19日~21日に韓国チェジュ島で開催された、第10回、International Conference on NNT2011においても発表されました。
この成功を支えたのがホロン独自の電子ビーム技術です。
この共同開発に伴い、ホロンは、世界で初めてロールモールドを直接観察ができるCD-SEMの開発に成功し、韓国チェジュ島で開催の国際会議に展示しました。



【受賞理由】
フレキシブルエレクトロニクスなどの部材生産に用いる高速ロールプリントプロセス用ロールモールドの表面に形成した微細パターンを観測・計測できる電子顕微鏡を世界で初めて開発した点を賞す。
フレキシブルエレクトロニクスなどの部材生産に用いる高速ロールプリントプロセス用ロールモールドの表面に形成した微細パターンを観測・計測できる電子顕微鏡を世界で初めて開発した点を賞す。



